Hyeokjae Lee,: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Dear readers,there is a temporary problem with downloading books on the site. Our specialists are trying to do everything possible to restore this function. We apologize for the inconvenience

Книги
Статті (23)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2001 IEEE International SOI Conference. Proceedings - Durango, CO, USA (1-4 Oct. 2001)] 2001 IEEE International SOI Conference. Proceedings (Cat. No.01CH37207) - f/sub T/ variation caused by channel width effects in ladder gate structure for RF SOI MOSFETs

Hyeokjae Lee,, Jono-Ho Lee,, Young June Park,, Hong Shick Min,

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 267 KB

english, 2001

2

Characterization issues of gate geometry in multifinger structure for RF-SOI MOSFETs

Hyeokjae Lee,, Jong-Ho Lee,, Young June Park,, Hong Shick Min,

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 282 KB

english, 2002

3

[IEEE 2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop - Boston, MA, USA (4-6 May 2004)] 2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530) - Real-time detection of resist strip failure at metal etch process equipment

Sang-Yeob Cha,, Hyeokjae Lee,, Seung-Ki Chae,

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 261 KB

english, 2004

4

Analysis of body bias effect with PD-SOI for analog and RF applications

Hyeokjae Lee, Hyunchul Nah, Jong-Ho Lee, Dae-Gwan Kang, Young June Park, Hong Shick Min

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 590 KB

english, 2002

5

Defect suppression of indium end-of-range during solid phase epitaxy annealing using Si1−yCy in silicon

Chung Foong Tan, Eng Fong Chor, Hyeokjae Lee, Jinping Liu, Elgin Quek, Lap Chan

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 254 KB

english, 2006

6

Ultrasensitive, Biocompatible, Quantum-Dot-Embedded Silica Nanoparticles for Bioimaging

Bong-Hyun Jun, Do Won Hwang, Heung Su Jung, Jaeho Jang, Hyunsoo Kim, Homan Kang, Taegyu Kang, San Kyeong, Hyeokjae Lee, Dae Hong Jeong, Keon Wook Kang, Hyewon Youn, Dong Soo Lee, Yoon-Sik Lee

Журнал:

Advanced Functional Materials

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 937 KB

english, 2012

7

Quantum Dots: Ultrasensitive, Biocompatible, Quantum-Dot-Embedded Silica Nanoparticles for Bioimaging (Adv. Funct. Mater. 9/2012)

Bong-Hyun Jun, Do Won Hwang, Heung Su Jung, Jaeho Jang, Hyunsoo Kim, Homan Kang, Taegyu Kang, San Kyeong, Hyeokjae Lee, Dae Hong Jeong, Keon Wook Kang, Hyewon Youn, Dong Soo Lee, Yoon-Sik Lee

Журнал:

Advanced Functional Materials

Рік:

2012

Файл:

PDF, 4.68 MB

2012

8

A dual body SOI structure for mixed analog-digital mode circuits

Hyeokjae Lee, Jong-Ho Lee, Young June Park, Hong Shick Min

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 386 KB

english, 2000

9

An anomalous device degradation of SOI narrow width devices caused by STI edge influence

Hyeokjae Lee, Jong-Ho Lee, Hyungsoon Shin, Young-June Park, Hong Shick Min

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 328 KB

english, 2002

10

Influence of substitutional carbon incorporation on implanted-indium-related defects and transient enhanced diffusion

Tan, Chung Foong, Chor, Eng Fong, Liu, Jinping, Lee, Hyeokjae, Quek, Elgin, Chan, Lap

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 434 KB

english, 2003

11

[IEEE 2000 IEEE International SOI Conference. Proceedings - Wakefield, MA, USA (2-5 Oct. 2000)] 2000 IEEE International SOI Conference. Proceedings (Cat. No.00CH37125) - An anomalous device degradation of SOI devices with STI

Hyeokjae Lee,, Jong Ho Lee,, Dae-Gwan Kang,, Young June Park,, Hong Shick Min,

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 245 KB

english, 2000

12

[IEEE 2002 IEEE International SOI Conference - Williamsburg, VA, USA (2002.10.10-2002.10.10)] IEEE International SOI Conference SOI-02 - Harmonic distortion due to narrow width effects in deep sub-micron SOI-CMOS device for analog-RF applications

Hyeokjae Lee,, Kwun-Soo Chun,, Jeong-Hyong Yi,, Jong Ho Lee,, Young June Park,, Hong Shick Min,

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 235 KB

english, 2002

13

[IEEE International Electron Devices Meeting - Washington, DC, USA (10-13 Dec. 1995)] Proceedings of International Electron Devices Meeting - A new leakage component caused by the interaction of residual stress and the relative position of poly-Si gate at isolation edge

Hyeokjae Lee,, Yoonjong Huh,, Jung-Suk Goo,, Sang-Don Lee,, Dooyoung Yang,, Wooshik Kim,

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 527 KB

english, 1995

14

Low-frequency noise degradation caused by STI interface effects in SOI-MOSFETs

Hyeokjae Lee,, Jong-Ho Lee,, Hyungsoon Shin,, Young June Park,, Hong Shick Min,

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 74 KB

english, 2001

15

[IEEE International Electron Devices Meeting - Washington, DC, USA (10-13 Dec. 1995)] Proceedings of International Electron Devices Meeting - Hot-carrier-induced gate capacitance variation and its impact on DRAM circuit functionality

Yoonjong Huh,, Hyeokjae Lee,, Jae-Gyung Ahn,, Dooyoung Yang,, Yungkwon Sung,

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 381 KB

english, 1995

16

Enhancing leakage suppression in carbon-rich silicon junctions

Chung Foong Tan,, Eng Fong Chor,, Hyeokjae Lee,, Quek, E., Lap Chan,

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 140 KB

english, 2006

17

Leakage suppression of gated diodes fabricated under low-temperature annealing with substitutional carbon Si/sub 1-y/C/sub y/ incorporation

Chung Foong Tan,, Eng Fong Chor,, Hyeokjae Lee,, Jinping Liu,, Quek, E., Lap Chan,

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 252 KB

english, 2005

18

Analysis of Self-Heating Effect on Short Channel Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors

Lee, Seok-Woo, Jeon, Pyo Jin, Choi, Kyunghee, Min, Sung-Wook, Kwon, Hyeokjae, Im, Seongil

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 492 KB

english, 2015

19

Time-Varying Body Instability and Low-Frequency Noise Characteristics of Mini-Field-Dual-Body Silicon-on-Insulator Structure for Analog-Digital Mixed-Mode Circuits

Lee, Hyeokjae, Lee, Jong-Ho, Park, Young June, Min, Hong Shick

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 294 KB

english, 2002

20

Nonvolatile Ferroelectric Memory Circuit Using Black Phosphorus Nanosheet-Based Field-Effect Transistors with P(VDF-TrFE) Polymer

Lee, Young Tack, Kwon, Hyeokjae, Kim, Jin Sung, Kim, Hong-Hee, Lee, Yun Jae, Lim, Jung Ah, Song, Yong-Won, Yi, Yeonjin, Choi, Won-Kook, Hwang, Do Kyung, Im, Seongil

Журнал:

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.14 MB

english, 2015

21

Large scale MoS 2 nanosheet logic circuits integrated by photolithography on glass

Kwon, Hyeokjae, Jeon, Pyo Jin, Kim, Jin Sung, Kim, Tae-Young, Yun, Hoyeol, Lee, Sang Wook, Lee, Takhee, Im, Seongil

Журнал:

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.37 MB

english, 2016

22

13-2: Remarkable Reduction of Efficiency Roll-off for Quantum-dot Light Emitting Diodes by Optimized Shell Layer

Kim, Hyo-Min, Hwang, Eunsa, Cho, Sinyoung, Jeong, Duk Young, Nam, Kyungmok, Lee, Hyeokjae, Jang, Jin

Журнал:

SID Symposium Digest of Technical Papers

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 506 KB

english, 2017

23

All-2D ReS2 transistors with split gates for logic circuitry

Kwon, Junyoung, Shin, Yongjun, Kwon, Hyeokjae, Lee, Jae Yoon, Park, Hyunik, Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Kim, Jihyun, Lee, Chul-Ho, Im, Seongil, Lee, Gwan-Hyoung

Журнал:

Scientific Reports

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.09 MB

english, 2019